SN74ABTH18646APM

Numero di parte del produttore
SN74ABTH18646APM
Produttore
Texas Instruments
Pacchetto/scatola
-
Scheda dati
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Descrizione
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Azione:
Disponibile

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Produttore :
Texas Instruments
categoria di prodotto :
Logica - Logica di specialità
Logic Type :
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Mounting Type :
Surface Mount
Number of Bits :
18
Operating Temperature :
-40°C ~ 85°C
Package / Case :
64-LQFP
Product Status :
Active
Supplier Device Package :
64-LQFP (10x10)
Supply Voltage :
4.5V ~ 5.5V
Schede tecniche
SN74ABTH18646APM

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